屏幕上清晰地展示出三份电子文档的首页，上面印着醒目的华夏专利局标志和专利申请号。
“就在JCAS那篇论文网络发表的前一天，”皮尔兹的声音清晰而冷静，“一批相关专利，已经通过了实质审查阶段，进入授权公告前的最后程序……其中包括最核心的三项”
她用激光笔依次点着三份文件：
“第一，一种TEM/APT通用样品制备方法。核心是利用特定参数的FIB刻蚀和原位微纳操纵探针，在TEM观测的薄膜目标区域‘雕刻’出符合APT分析要求的纳米针尖。”
“第二，一种统一穿透测试视场的采样纳米针尖结构设计。这种特殊几何形状的针尖，确保TEM观测的视场区域与后续APT进行场蒸发的针尖顶端区域，在空间上高度重合或可精确对应。”
“第三，一种透射电子显微镜下的四自由度纳米操纵平台及其定位方法。集成了激光定位和图像识别算法，确保TEM观察后，能高精度、原位地将同一微区的样品针尖送入APT分析位置……”
“……”